XRF (التفلورسنس بالأشعة السينية)
تحليل عنصري غير تدميري باستخدام الأشعة السينية لإثارة الذرات وقياس التفلورسنس المنبعثة.
XRF هي تقنية تحليلية تقصف العينة بأشعة سينية، فيؤدي ذلك إلى طرد إلكترونات من الغلاف الداخلي. إلكترونات الغلاف الخارجي تملأ الفراغ وتبعث أشعة سينية متفلورسنت — لكل عنصر بصمة طاقة فريدة.
محللات XRF المحمولة مثل Specelex تقيس هذه البصمات في ثوانٍ دون قطع أو تدمير العينة. التطبيقات تشمل PMI للسبائك والتعدين وفحص التربة والامتثال RoHS وتحليل المعادن الثمينة.