Elementos Ligeros
Elementos de bajo número atómico (C, O, N, Na, Mg) con baja detectabilidad en XRF portátil estándar.
Elementos bajo ~número atómico 11 son difíciles para XRF portátil porque sus rayos X fluorescentes son baja energía y fácilmente absorbidos.
El carbono en acero — crítico para soldabilidad y templabilidad — requiere OES, no XRF portátil. Magnesio y aluminio en aleaciones son detectables con calibración adecuada y detectores SDD (Max/Ultra).
Related Terms
XRF (Fluorescencia de Rayos X)
Análisis elemental no destructivo usando rayos X para excitar átomos y medir fluorescencia emitida.
OES (Espectrometría de Emisión Óptica)
Técnica de laboratorio basada en chispa excelente para C, S, P en acero — complementa XRF portátil.
LOD (Límite de Detección)
La concentración más baja que un instrumento puede distinguir de forma fiable del ruido de fondo.
SDD (Detector de Deriva de Silicio)
Detector XRF de alta resolución que permite análisis multielemento más rápido y preciso.