XRF 용어집
PMI, LOD, SDD, FP, 매트릭스 효과, RoHS — 휴대용 XRF 용어 설명.
IEC 62321
전기 제품에서 제한된 물질을 결정하기 위한 국제 표준 시리즈.
LOD (검출 한계)
장치가 배경 잡음과 신뢰성 있게 구분할 수 있는 가장 낮은 농도.
NACE MR0175 / ISO 15156
H2S를 함유한 석유 및 가스 환경에서 황화수소 응력균열에 강한 재료에 대한 표준.
NDT (비파괴 검사)
구성 요소를 손상시키지 않고 재료를 평가하는 시험 방법.
OES (광학 방출 분광법)
스파크 기반 실험실 방법, 강철 내 C, S, P에 탁월 — 휴대용 XRF를 보완함.
PMI (양성 재료 식별)
설치되었거나 들어오는 금속이 지정된 합금 등급에 부합하는지 검증.
RoHS
전자 제품의 유해 물질 제한에 관한 EU 지침 — 휴대용 XRF가 있는 스크린바.
SDD (실리콘 드리프트 검출기)
더 빠르고 정확한 다원소 분석을 위한 고해상도 XRF 검출기.
XRF(엑스선 형광)
원자를 자극하고 방출된 형광을 측정하기 위한 X선 비파괴 원소 분석.
경원소
표준 XRF에서 검출이 어려운 낮은 원자 번호(C, O, N, Na, Mg)를 가진 원소.
교정
측정된 X선 강도와 원소 농도 사이의 관계 설정.
기본 매개변수 (FP)
적절한 교정 표준에 대한 의존도를 줄이는 물리 기반 정량화.
매트릭스 효과
전체 시료 조성이 목표 원소에 대한 측정 강도를 변경할 때.
콜리메이터
샘플 표면에서 X선 스폿 크기를 정의하는 광학 구성 요소.
품번 ID
XRF 결과를 합금 라이브러리와 비교하여 가장 가능성 있는 품질을 제안하는 소프트웨어.