LOD (검출 한계)
장치가 배경 잡음과 신뢰성 있게 구분할 수 있는 가장 낮은 농도.
검출한계(LOD)는 분석 물질을 정의된 신뢰 수준에서 식별할 수 있는 최소 농도로, 일반적으로 배경보다 3σ 높은 수준입니다.
LOD는 원소, 매트릭스 및 측정 시간에 따라 다릅니다. 경원소(C, O, N)는 XRF에서 LOD가 낮으며, 합금 매트릭스의 전이 금속은 일반적으로 검출기와 보정에 따라 ppm에서 퍼센트 수준까지 검출 가능합니다."
장치가 배경 잡음과 신뢰성 있게 구분할 수 있는 가장 낮은 농도.
검출한계(LOD)는 분석 물질을 정의된 신뢰 수준에서 식별할 수 있는 최소 농도로, 일반적으로 배경보다 3σ 높은 수준입니다.
LOD는 원소, 매트릭스 및 측정 시간에 따라 다릅니다. 경원소(C, O, N)는 XRF에서 LOD가 낮으며, 합금 매트릭스의 전이 금속은 일반적으로 검출기와 보정에 따라 ppm에서 퍼센트 수준까지 검출 가능합니다."
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