Elementos Leves
Elementos de baixo número atômico (C, O, N, Na, Mg) com baixa detectabilidade em XRF portátil padrão.
Elementos abaixo do número atômico ~11 são desafiadores para XRF portátil porque seus raios X fluorescentes têm baixa energia e são facilmente absorvidos.
Carbono no aço — crítico para soldabilidade e endurecimento — requer OES, não XRF portátil. Magnésio e alumínio em ligas são detectáveis com calibração adequada e detectores SDD (Max/Ultra).
Related Terms
XRF (Fluorescência de Raios X)
Análise elementar não destrutiva usando raios X para excitar átomos e medir fluorescência emitida.
OES (Espectrometria de Emissão Óptica)
Técnica de laboratório baseada em faísca, excelente para C, S, P no aço — complementa a XRF portátil.
LOD (Limite de Detecção)
A menor concentração que o instrumento distingue de forma confiável do ruído de fundo.
SDD (Detector de Deriva de Silício)
Detector XRF de alta resolução que permite análise multielementar mais rápida e precisa.