Hafif elementler
Düşük atom numarasına sahip elementler (C, O, N, Na, Mg), standart XRF’de zayıf tespit edilebilirliğe sahiptir.
11’inci atom numarasının altındaki elementler taşınabilir XRF için zorludur, çünkü onların floresan X-ışınları düşük enerjilidir ve kolayca emilir.
Çelikteki karbon — kaynaklanabilirlik ve sertleştirilebilirlik için kritik — OES gerektirir, taşınabilir XRF değil. Alaşımlardaki magnezyum ve alüminyum doğru kalibrasyon ve SDD detektörleri (Max/Ultra) ile tespit edilebilir."
Related Terms
XRF (Röntgen florasanışı)
Atomları uyarmak ve yayılan fluoresansı ölçmek için X-ışınları ile tahribatsız element analizi.
OES (Optiksel Emisyon Spektrometrisi)
Çelikte C, S, P için mükemmel kıvılcım tabanlı laboratuvar yöntemi — taşınabilir XRF ile tamamlayıcı.
LOD (Tespit sınırı)
Bir cihazın arka plan gürültüsünden güvenilir bir şekilde ayırt edebileceği en düşük konsantrasyon.
SDD (Silisyum Kayma Dedektörü)
Daha hızlı ve daha doğru çok elementli analiz için yüksek çözünürlüklü XRF dedektörü.