XRF tespit sınırlarını (LOD) anlamak
LOD, eleman, matris, sayım süresi ve dedektöre bağlıdır — sadece broşür sayısına değil.
Saptama sınırı (LOD), bir analiz cihazının arka plandan güvenilir bir şekilde ayırt edebileceği en düşük konsantrasyondur.
LOD’yi etkileyen faktörler:
- Dedektör türü — Premium SDD (Ultra) en iyi LOD’yi sağlar
- Matris — Alaşım, toprak veya plastik duyarlılığı değiştirir
- Sayım süresi — Daha uzun testler hassasiyeti artırır
- Element — Ağır elementler genellikle hafif olanlara göre daha kolaydır
Kritik uyumluluk kararları için LOD’nizi matrisinizde doğrulayın ve limit değer sonuçlarını laboratuvar yöntemleri ile teyit edin.