Leichtelemente
Elemente mit niedriger Ordnungszahl (C, O, N, Na, Mg) mit schlechter Nachweisbarkeit in Standard-XRF.
Elemente unter ~Ordnungszahl 11 sind für tragbares XRF herausfordernd, weil ihre fluoreszierenden Röntgenstrahlen niedrige Energie haben und leicht absorbiert werden.
Kohlenstoff in Stahl — kritisch für Schweißbarkeit und Härtbarkeit — erfordert OES, nicht tragbares XRF. Magnesium und Aluminium in Legierungen sind mit richtiger Kalibrierung und SDD-Detektoren (Max/Ultra) nachweisbar.
Related Terms
XRF (Röntgenfluoreszenz)
Zerstörungsfreie Elementanalyse mit Röntgenstrahlen zur Anregung von Atomen und Messung emittierter Fluoreszenz.
OES (Optische Emissionsspektrometrie)
Funkenbasiertes Laboverfahren, hervorragend für C, S, P in Stahl — ergänzt tragbares XRF.
LOD (Nachweisgrenze)
Die niedrigste Konzentration, die ein Gerät zuverlässig vom Hintergrundrauschen unterscheiden kann.
SDD (Silizium-Drift-Detektor)
Hochauflösender XRF-Detektor für schnellere, genauere Multielementanalyse.