XRF-Nachweisgrenzen (LOD) verstehen
LOD hängt von Element, Matrix, Zählzeit und Detektor ab — nicht nur von der Broschürenzahl.
Die Nachweisgrenze (LOD) ist die niedrigste Konzentration, die ein Analysator zuverlässig vom Hintergrund unterscheiden kann.
Faktoren, die LOD beeinflussen:
- Detektortyp — Premium SDD (Ultra) liefert die beste LOD
- Matrix — Legierung vs. Boden vs. Kunststoff ändert Empfindlichkeit
- Zählzeit — Längere Tests verbessern Präzision
- Element — Schwere Elemente oft einfacher als leichte
Für kritische Compliance-Entscheidungen LOD auf Ihrer Matrix validieren und Grenzwertresultate mit Labormethoden bestätigen.