XRF Glossary
PMI, LOD, SDD, FP, matrix effects, RoHS — portable XRF terms explained.
Collimateur
Composant optique définissant la taille du spot du faisceau X sur la surface de l'échantillon.
Effet de Matrice
Quand la composition globale de l'échantillon modifie les intensités mesurées pour les éléments cibles.
Éléments Légers
Éléments de numéro atomique bas (C, O, N, Na, Mg) avec faible détectabilité en XRF portable standard.
END (Essais Non Destructifs)
Méthodes d'essai évaluant les matériaux sans endommager la pièce.
Étalonnage
Établir la relation entre intensité X mesurée et concentration élémentaire.
Identification de Nuance
Logiciel comparant les résultats XRF aux bibliothèques d'alliages pour suggérer la nuance la plus probable.
IEC 62321
Série de normes internationales pour déterminer substances restreintes dans produits électrotechniques.
LOD (Limite de Détection)
La concentration la plus basse qu'un instrument peut distinguer de façon fiable du bruit de fond.
NACE MR0175 / ISO 15156
Norme pour matériaux résistants à la fissuration sous contrainte en sulfures en environnements H2S pétrole & gaz.
OES (Spectrométrie d'Émission Optique)
Technique de laboratoire à étincelle excellente pour C, S, P dans l'acier — complète le XRF portable.
Paramètres Fondamentaux (FP)
Quantification basée sur la physique réduisant la dépendance aux étalons d'étalonnage correspondants.
PMI (Identification Positive des Matériaux)
Vérifier que le métal installé ou entrant correspond à la nuance d'alliage spécifiée.
RoHS
Directive UE restreignant substances dangereuses en électronique — dépistable par XRF portable.
SDD (Détecteur à Dérive Silicium)
Détecteur XRF haute résolution permettant une analyse multi-éléments plus rapide et précise.
XRF (Fluorescence X)
Analyse élémentaire non destructive utilisant les rayons X pour exciter les atomes et mesurer la fluorescence émise.