Éléments Légers
Éléments de numéro atomique bas (C, O, N, Na, Mg) avec faible détectabilité en XRF portable standard.
Les éléments sous ~numéro atomique 11 sont difficiles pour le XRF portable car leurs rayons X fluorescents sont basse énergie et facilement absorbés.
Le carbone dans l'acier — critique pour soudabilité et trempabilité — nécessite OES, pas XRF portable. Magnésium et aluminium dans alliages sont détectables avec bon étalonnage et détecteurs SDD (Max/Ultra).
Related Terms
XRF (Fluorescence X)
Analyse élémentaire non destructive utilisant les rayons X pour exciter les atomes et mesurer la fluorescence émise.
OES (Spectrométrie d'Émission Optique)
Technique de laboratoire à étincelle excellente pour C, S, P dans l'acier — complète le XRF portable.
LOD (Limite de Détection)
La concentration la plus basse qu'un instrument peut distinguer de façon fiable du bruit de fond.
SDD (Détecteur à Dérive Silicium)
Détecteur XRF haute résolution permettant une analyse multi-éléments plus rapide et précise.