Glossario XRF

PMI, LOD, SDD, FP, effetti di matrice, RoHS — termini XRF portatile spiegati.

Stabilire il rapporto tra l'intensità dei raggi X misurata e la concentrazione degli elementi.

Componente ottica che definisce la dimensione del punto del raggio X sulla superficie del campione.

Quando la composizione complessiva del campione cambia le intensità misurate per gli elementi target.

Elementi con numero atomico basso (C, O, N, Na, Mg) con scarsa rilevabilità nella XRF standard.

Software che confronta i risultati XRF con librerie di leghe per suggerire la qualità più probabile.

Serie standard internazionale per la determinazione di sostanze limitate nei prodotti elettrotecnici.

La concentrazione più bassa che un dispositivo può distinguere in modo affidabile dal rumore di fondo.

Standard per materiali resistenti alla criccatura da solfuri di idrogeno in ambienti petroliferi e del gas contenenti H2S.

Metodi di prova che valutano i materiali senza danneggiare il componente.

Procedura di laboratorio basata su scintille, eccellente per C, S, P nell'acciaio — integra XRF portatile.

Quantificazione basata sulla fisica che riduce la dipendenza da standard di calibrazione appropriati.

Verifica che il metallo installato o in arrivo corrisponda alla qualità di lega specificata.

Direttiva UE sulla restrizione delle sostanze pericolose nell'elettronica — screenbar con XRF portatile.

Rilevatore XRF ad alta risoluzione per un'analisi multielemento più veloce e precisa.

Analisi elementare non distruttiva con raggi X per l'eccitazione degli atomi e la misurazione della fluorescenza emessa.