Elementi leggeri
Elementi con numero atomico basso (C, O, N, Na, Mg) con scarsa rilevabilità nella XRF standard.
Gli elementi con ~numero atomico 11 sono impegnativi per XRF portatile, perché i loro raggi X fluorescenti hanno bassa energia e vengono facilmente assorbiti.
Il carbonio nell'acciaio — critico per saldabilità e tempra — richiede OES, non XRF portatile. Magnesio e alluminio nelle leghe sono rilevabili con calibrazione corretta e rivelatori SDD (Max/Ultra)."
Related Terms
XRF (fluorescenza a raggi X)
Analisi elementare non distruttiva con raggi X per l'eccitazione degli atomi e la misurazione della fluorescenza emessa.
OES (Spettrometria di emissione ottica)
Procedura di laboratorio basata su scintille, eccellente per C, S, P nell'acciaio — integra XRF portatile.
LOD (limite di rilevamento)
La concentrazione più bassa che un dispositivo può distinguere in modo affidabile dal rumore di fondo.
SDD (Rivelatore a deriva di silicio)
Rilevatore XRF ad alta risoluzione per un'analisi multielemento più veloce e precisa.