SC
Specelex

LOD(检出限)

仪器能可靠区分于背景噪声的最低浓度。

检出限(LOD)是在规定置信水平下(通常为背景以上 3σ)可识别分析物的最低浓度。

LOD 因元素、基体和测量时间而异。轻元素(C、O、N)在 XRF 中 LOD 较差;合金基体中的过渡金属通常可达 ppm 至百分含量级,取决于探测器与校准。