LOD(检出限)
仪器能可靠区分于背景噪声的最低浓度。
检出限(LOD)是在规定置信水平下(通常为背景以上 3σ)可识别分析物的最低浓度。
LOD 因元素、基体和测量时间而异。轻元素(C、O、N)在 XRF 中 LOD 较差;合金基体中的过渡金属通常可达 ppm 至百分含量级,取决于探测器与校准。
仪器能可靠区分于背景噪声的最低浓度。
检出限(LOD)是在规定置信水平下(通常为背景以上 3σ)可识别分析物的最低浓度。
LOD 因元素、基体和测量时间而异。轻元素(C、O、N)在 XRF 中 LOD 较差;合金基体中的过渡金属通常可达 ppm 至百分含量级,取决于探测器与校准。
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