XRF 术语表
PMI、LOD、SDD、FP、基体效应、RoHS — 便携式 XRF 术语详解。
IEC 62321
电工电子产品限制物质测定的国际标准系列。
LOD（检出限）
仪器能可靠区分于背景噪声的最低浓度。
NACE MR0175 / ISO 15156
石油天然气含 H2S 酸性环境中耐硫化物应力开裂的材料标准。
NDT（无损检测）
不损坏部件即可评估材料的检测方法。
OES（光学发射光谱）
基于火花的实验室技术，擅长钢铁中 C、S、P 检测 — 与便携式 XRF 互补。
PMI（正材料鉴定）
验证安装或来料金属是否符合指定合金牌号。
RoHS
欧盟限制电子电气设备有害物质的指令 — 可用便携式 XRF 筛查。
SDD（硅漂移探测器）
高分辨率 XRF 探测器，实现更快、更准确的多元素分析。
XRF（X 射线荧光）
利用 X 射线激发原子并测量荧光发射的无损元素分析技术。
准直器
定义 X 射线束在样品表面光斑尺寸的光学组件。
基体效应
样品整体成分改变目标元素测量强度时的效应。
基本参数法 (FP)
基于物理模型的定量方法，降低对匹配校准标样的依赖。
校准
建立测量 X 射线强度与元素浓度之间关系的过程。
牌号识别
将 XRF 结果与合金库对比以推荐最可能牌号的软件功能。
轻元素
低原子序数元素（C、O、N、Na、Mg）在标准便携式 XRF 中检测困难。