XRF Glossary
PMI, LOD, SDD, FP, matrix effects, RoHS — portable XRF terms explained.
IEC 62321
電気・電子製品の制限物質測定に関する国際規格シリーズ。
LOD（検出限界）
装置が背景ノイズから信頼性高く区別できる最低濃度。
NACE MR0175 / ISO 15156
H2Sサワー石油・ガス環境における硫化物応力割れ耐性材料の規格。
NDT（非破壊試験）
部品を損傷することなく材料を評価する試験方法。
OES（光学発光分光法）
C、S、Pの鋼分析に優れた火花ベースのラボ手法 — ポータブルXRFを補完。
PMI（Positive Material Identification）
設置済みまたは入荷金属が指定合金グレードと一致することを検証する。
RoHS
電子機器の有害物質を制限するEU指令 — ポータブルXRFでスクリーニング可能。
SDD（シリコンドリフト検出器）
より高速で正確な多元素分析を可能にする高分解能XRF検出器。
XRF（X線蛍光）
X線で原子を励起し、放出される蛍光を測定する非破壊元素分析。
キャリブレーション
測定X線強度と元素濃度の関係を確立するプロセス。
グレードID
XRF結果を合金ライブラリと比較し、最も可能性の高いグレードを提案するソフトウェア。
コリメータ
試料表面のX線ビームスポットサイズを定義する光学部品。
マトリックス効果
試料全体の組成が対象元素の測定強度を変化させる現象。
基本パラメータ法（FP）
キャリブレーション標準への依存を低減する物理ベースの定量法。
軽元素
標準ポータブルXRFで検出が困難な低原子番号元素（C、O、N、Na、Mg）。