SC
Specelex

XRF(X 射线荧光)

利用 X 射线激发原子并测量荧光发射的无损元素分析技术。

X 射线荧光(XRF)是一种分析技术:用 X 射线轰击样品,使内层电子逸出,外层电子填补空位并发射特征荧光 X 射线 — 每种元素产生独特的能量特征。

Specelex 等便携式 XRF 分析仪可在数秒内测量这些特征,无需切割或破坏样品。应用涵盖合金 PMI、矿业、土壤筛查、RoHS 合规与贵金属检测。